Maple-II光致发光光谱仪

更新时间：2023-08-18

简要描述：

Maple-II光致发光光谱仪
特点：
显微光致发光/低温-光致发光及电致发光测量
可适用高精密光致发光测绘
到0.01nm为止的高空间分辨率
自动化：波长监测，滤波及激光器范围

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Maple-II光致发光光谱仪

1）Maple-II, Micro PL System

特点：

显微光致发光/低温-光致发光及电致发光测量

可适用高精密光致发光测绘

到0.01nm为止的高空间分辨率

自动化：波长监测，滤波及激光器范围

Maple-II光致发光光谱仪

2）SC-100 ,Macro光致发光/PLE测量

特点：

紧凑的模块化设计及经济的选择

多激发源（到9）

单独及光纤耦合半导体激光器输入输出

用户自定义系统

3）SC-100FS，Macro PL/寿命测量

特点：

时间分辨率单光子计数模块

时间分辨能力：25ps/1ns（长距离模式）

简便及精密的电压监测

光致发光及荧光的脉冲以及CW源

作为本社的拉曼光致发光系统其结构简便

参数：

	Maple-II	SC-100	SC-100FS
检测范围	200~5000nm	200~5000nm	200~5000nm（200-1600nm for Time）
光谱分辨率	0.015nm/pixel
杂散光阻断	5*10-6
输入源	246-1064（laser combine up to 3 line）	246-1064（laser combine up to 9 wavelength）
探测器	CCD/PMT/PD			CCD/PMT/PD/MCP
自动化	Laser line，power ,wavelength ,resolution polarization control by sw
共焦模块	Real confocal pinhole/slit	X		X
物镜	X10~X100(266-1800nm)
束斑尺寸	＜1μm	＜50~100μm
低温选项	~4k(77k)