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红外导引、控制测试系统

红外导引、控制测试系统

更新时间:2023-08-18

简要描述:

红外导引、控制测试系统可以检测各种红外头快速更换的优点。由于它是红外全波段的工作,因此可以适用于各种红外制导的检测工作。

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  • 产品介绍:

红外导引、控制测试系统简介

可以检测各种红外头的快速更换的优点。由于它是红外全波段的工作,因此可以适用于各种红外制导的检测工作。

导引头的跟踪精度是由导引头引起的瞄准误差。提高红外成像导引头的跟踪精度就是要减小导引头系统的静差。导引头跟踪精度越高,系统的静差越小,导引准确性就越高,制导精度也就越高。大跟踪角速度也就是红外成像导引头的重要性能指标之一。

红外导引、控制测试系统技术规格

焦距

f′=320mm

口径

D=Φ68mm

工作波段

λ=1~12μm

黑体有效温控范围

50~500℃

目标摆动范围

2ω=±30º

目标归零

±0.1º

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