更新时间：2023-08-18
室温型HgCdTe探测器特点：室温下工作；无需偏置；响应时间短；无闪动噪声；从DC到高频范围工作；与快速逻辑元器件*兼容；动态范围宽；低成本；可根据客户要求设计。
室温型HgCdTe探测器描述
PV-n（n表示特性波长，单位是微米）系列的光电探测器是红外光电探测器，这些装置在2～11µm范围内的任意值可以达到好的性能。他们的高性能和稳定性可以通过近开发的变隙半导体HgCdZnTe优化掺杂面和改进的表面处理来获得。可以按客户定制器件的要求提供四象限单元、多元件阵列、各种浸润镜头、视窗和光滤波器。标准可以供货的探测器（不带视窗）封装是改进的TO-39或BNC-based封装。其它的封装、视窗和连接器可以根据需求提供。
室温型HgCdTe探测器详细规格
特性（@ 20ºC） | 单位 | LD-PV-3 | LD-PV-4 | LD-PV-5 | LD-PV-6 | LD-PV-8 |
特性波长λop | μm | 3 | 4 | 5 | 6 | 8 |
探测率: at λpeak at λop | cmHz1/2/W
|
≥8 x 109 ≥6.5 x 109 |
≥5 x 109 ≥3 x 109 |
≥2 x 109 ≥1 x 109 |
≥1 x 108 ≥5 x 108 |
≥8 x 107 ≥4 x 107 |
响应度 | A/W | ≥0.5 | ≥1 | ≥1 | ≥1 | ≥0.3 |
响应时间τ | ns | ≤350 | ≤150 | ≤120 | ≤80 | ≤4 |
响应时间τ(加反向偏压) | ns | ≤3 | ≤2 | ≤1 | ≤0.7 | ≤0.7 |
并联电阻-光学面积 | Ω·cm 2 | ≥1 | ≥0.1 | ≥0.01 | ≥0.002 | ≥0.0001 |
光学面积（长×宽） 或直径 (园形) | mm x mm mm | 0.025×0.025; 0.05×0.05; 0.1×0.1; 0.25×0.25; 0.5×0.5; 1×1; 2×2; ø0.025; ø0.05; ø0.1; ø0.25; ø0.5; ø1; ø2; ø3 | ||||
工作温度 | K | 300 | ||||
视场, F# | deg | 90, 0.71 | ||||
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