更新时间:2023-08-18
损伤阈值测试系统LD-SSYZ用于测试由于激光辐射所引起的能够探测(或观察)到的致使光学表面(或膜系)特征的*性变化的几率为0的大激光辐射能量密度。
损伤阈值测试系统LD-SSYZ
用于测试由于激光辐射所引起的能够探测(或观察)到的致使光学表面(或膜系)特征的*性变化的几率为0的大激光辐射能量密度。
激光膜层损伤阈值测试系统是由脉冲单模激光器1064nm的发射源照射样品进行测试,采用的是光学吸收型的原理进行膜层的损伤阈值的分析,测试范围1J/cm2~30J/cm2(脉冲宽度为15ns±5ns)。
损伤阈值测试系统LD-SSYZ
技术规格
测量范围 | 1J/cm2~30J/cm2(脉冲宽度为15ns±5ns) |
测试方式 | 1对1,S对1 |
测试样品 | 平面试样片、球面镜 |
光斑照射面积 | 0.5mm2±0.03mm2 |
激光辐射波长 | 1064nm±5nm |
衰减方式 | 光学吸收型 |
衰减量 | 0~90% |
被测工件直径范围 | Φ10mm~Φ100mm |
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