短波焦平面探测器用于的聚焦模式测试

 

　　短波焦平面探测器的黑体源，积分球光源和光学器件可以快速的重新配置来进行泛光照明模式、聚焦模式、准直光模式测试。MTF、串扰、点扫描和D*测试是非常和可复现的。短波焦平面探测器精密的平台结构可以消除多个测试设备的布局和光路准直带来的误差。

　　

　　短波焦平面探测器用于的聚焦模式测试：

　　

　　在聚焦模式测试中，短波焦平面探测器可以将红外照射的小孔或靶标聚焦在探测器的某个像素上面。典型的聚焦模式测试项包含串扰,点扫描、调制传递函数。高温腔式黑体和低温面源黑体都可以作为短波焦平面探测器的红外光源，积分球光源作为可见光源。

　　

　　短波焦平面探测器用于的泛光照明模式测试：

　　

　　在泛光照明模式测试中，短波焦平面探测器用未聚焦的面源黑体或高温腔式黑体辐射线照射探测器。泛光照明模式测试项包含响应率、噪声、均匀性、探测灵敏度、线性度。辐射源的位置是用短波焦平面探测器带有刻度的光学精密轨道和快速可调的运动支架来设定的，以此来达到准确控制辐照度的目的。

　　

　　短波焦平面探测器用于的准直模式测试

　　

　　泛光照明模式和聚焦模式是测试非成像光学传感器或系统的。短波焦平面探测器可以通过加装平行光管来实现成像系统的性能测试，这用温差面源黑体和靶轮或腔式黑体和光阑经过平行光管投射到被测成像系统。准直模式测试项包括系统级的调制传递函数、信号传递函数、噪声等效温差和小可分辨温差等，使用准直模式下的短波焦平面探测器可以省去购买独立的红外目标模拟器的费用。