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点元探测器

点元探测器

更新时间:2025-04-24

简要描述:

光入浸式光导室温型HgCdTe探测器特点:室温下工作;D*(10.6 µm)达到3*108cmHz1/2/W;响应时间≤1ns;动态范围宽;与快速逻辑元器件*兼容;使用方便;低成本;及时交货;可根据客户要求设计。

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光入浸式光导室温型HgCdTe探测器介绍

PCI-n(n表示特性波长,单位是微米)系列的光电探测器是非制冷红外光电探测器,使用高折射率的GaAs(或CdZnTe )过半球透镜(标准)或者半球透镜(可选)进行光浸入。这些装置在2~12µm范围内的任意值可以达到好的性能。他们的高性能和稳定性通过新开发的变隙(HgCdZnTe)半导体优化掺杂面和改进的表面处理来获得。可以按客户所定制器件的要求提供四象限单元、多元件阵列、各种浸润镜头、视窗和光滤波器。

光入浸式光导室温型HgCdTe探测器参数

特性(@ 20ºC)

单位

LD-PCI-4

LD-PCI-5

LD-PCI-6

LD-PCI-9

LD-PCI-10.6

特性波长λop

µm

4

5

6

9

10.6

探测率:

at λ? peak, 20kHz

at λop, 20kHz

cmHz1/2/W

 

>1E10

>6E9

 

>6E9

>4E9

 

>2.5E9

>1E9

 

>5E8

>1E8

 

>1E8

>5E7

响应度-@λop

Vmm/W

>600

>300

>60

>3

>1

响应时间τ

ns

<1000

<500

<200

<2

<1

1/f噪声拐点频率

kHz

1-20

1-20

1-20

1-20

1-20

有效面积(长×宽)

mm×mm

0.25×0.25; 0.5×0.5; 1×1; 2×2

偏置电流-宽度比

mA /mm

1-2

2-4

3-10

3-15

5-20

薄层电阻系数

Ω/sqr

300-1000

200-400

100-300

50-150

40-120

视场, F#

deg

36,1.62

 

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